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光学解析ソフト
光ディスク評価装置
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25.pwrf
Description:
Planewave, wavelength 405nm, incident on a layered structure,
material properties at high temperature (400K), or
at room temperature can be set in geometry.input file.
See also Examples\dfrf for corresponding computation with
focused beam
Input files:
parameters.input
boundaries.input
geometry.input
material.input
Output files:
pwrm.zr,pwhi.zr - computed reflected field distribution in the xy-plane
pwrm.zt,pwhi.zt - computed field distribution in xy-plane at z=-0.08um
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