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Selected Test Runs
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Test Run 8
- 光学機器
要素:半導体レーザ光の光線追跡、ミラー等
図 A8.1.
図 A8.2. x偏光入射光線の強度分布
図 A8.3. 最終面での光強度分布 (a) x- (b) y-偏光成分
図 A8.4. 最終面での光位相分布 (a) x- (b) y-偏光成分
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